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期刊收录: 不限 SCI SCIE
简称:IEEE DES TEST COMPUT
ISSN:0740-7475
ESSN:0740-7475
所属分区:0区
出版地:UNITED STATES
出版周期:Bimonthly
创刊时间:1984
研究方向:工程技术-工程:电子与电气